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液晶高阻四探針測(cè)試儀 四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率,可以測(cè)試到10^10Ω方阻值,液晶顯示,芯片控制,恒流輸出,四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語(yǔ)言版本.
恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀器四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率,可以測(cè)試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量,系數(shù)補(bǔ)償,參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量.提供中文或英文語(yǔ)言版本.
恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀器四探針?lè)y(cè)試低阻材料方阻及電阻率,可以測(cè)試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量,系數(shù)補(bǔ)償,參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量.提供中文或英文語(yǔ)言版本.
四探針液晶電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)參考國(guó)標(biāo)單晶硅物理測(cè)試方法及A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀用于:覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試等相關(guān)產(chǎn)品
四端導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,實(shí)驗(yàn)室;是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量工具。可配置不同測(cè)量裝置測(cè)試不同類型材料之電阻率。液晶顯示,溫度補(bǔ)償功能,自動(dòng)量程,自動(dòng)測(cè)量電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。恒流源輸出;選配:PC軟件過(guò)程數(shù)據(jù)處理和標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器,中文或英文兩種語(yǔ)言界面選擇